Микроскопы отсчетные МОМ предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.
| Характеристики | Значение |
| Увеличение | 20х крат |
| Цена давления | 0,01 мм |
| Увеличение обьектива | 2х |
| Увеличение окуляра | 20х |
| Фокусное расстояние | 30 мм |
| Наличие подсветки | нет |
С этим товаром смотрят
